產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
TA100超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)
TPL300穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜系統(tǒng)
LFP100閃光光解系統(tǒng)
THZ100超快時間分辨太赫茲光譜系統(tǒng)
深紫外熒光系統(tǒng)
FLIM300多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統(tǒng)
UPSI100超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)
UF100超快熒光光譜系統(tǒng)
碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統(tǒng)
大能量DPSS Nd:YAG納秒脈沖激光器
高能高頻DPSS連續(xù)可調(diào)諧納秒激光器
高速探測器
SHG100非線性SHG測試系統(tǒng)
Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100
MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng)
SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng)
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心半導體光學檢測系列SiC晶圓少子壽命質(zhì)量成像監(jiān)測系統(tǒng)
product
產(chǎn)品分類
碳化硅成像檢測,SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng)：晶圓襯底質(zhì)量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質(zhì)量。
更新時間：2024-12-04
瀏覽量：888
